Symbol
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Eigenschaften
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Prüfbedingungen
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T j (℃ ) |
Wert |
Einheit
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Min |
TYP |
Max |
I T (AV ) |
Mittlerer Einschaltstrom |
180。halbe Sinuswelle 50Hz Doppelseitig gekühlt, |
T C =55℃ |
125 |
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1200 |
A |
T C =70℃ |
125 |
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1000 |
A |
V DRM |
Repetitive spitzenausschaltspannung |
tp=10ms |
125 |
2000 |
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3000 |
V |
V RRM |
Repetitive spitzenrückwärtsspannung |
1000 |
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2500 |
I DRM /IRRM |
Repetitive spitzenstrom |
bei V DRM /VRRM |
125 |
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80 |
mA |
I TSM |
Überschuss-Einschaltstrom |
10ms halbe Sinus welle V R =0.6 V RRM |
125
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16 |
kA |
I 2t |
I 2t für ver fusion koordination |
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1280 |
103A 2s |
V Bis zu |
Schwellenspannung |
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125 |
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1.55 |
V |
r T |
Einschaltsteigungswiderstand |
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0.40 |
mΩ |
V TM
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Spitzeneinschaltspannung
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I TM =3000A, F=24kN
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20≤ tq ≤ 35 |
25
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2.80 |
V |
36≤ tq ≤ 60 |
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2.60 |
V |
61≤ tq ≤ 75 |
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2.40 |
V |
dv/dt |
Kritische Anstiegsrate des Ausschaltzustands spannung |
V Dm =0.67 V DRM |
125 |
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1000 |
V/μs |
di/dt |
Kritische Anstiegsrate des Einschaltzustands aktuell (Nicht-wiederholend) |
V Dm = 67% V DRM bis zu 1600A,
Gate-Puls t r ≤0.5μs I GM =1.5A
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125 |
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1500 |
A/μs |
Q rR |
Einziehungsgebühr |
I TM =1000A ,tp=4000µs, di/ dt=-20A/µs, V R =100V |
125 |
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750 |
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μC |
tq |
Schaltungskommutierte Abschaltzeit |
I TM =1000A ,tp=4000µs, V R =100V dv/dt=30V/µs , di/dt=-20A/µs |
100 |
20 |
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75 |
μs |
I GT |
Gate-Auslöseström |
V A =12V, I A =1A
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25
|
40 |
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300 |
mA |
V GT |
Gate-Auslösespannung |
0.9 |
|
3.0 |
V |
I H |
Haltestrom |
20 |
|
500 |
mA |
I L |
Haltestrom |
|
|
500 |
mA |
V GD |
Nicht-auslösende Gate-Spannung |
V Dm =67% V DRM |
125 |
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0.3 |
V |
R th (j-c) |
Thermal widerstand Verbindung von Halbleiter zu Gehäuse |
doppelte Seite gekühlt Klemmkraft 24kN |
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0.020 |
℃ /W
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R th (c-h) |
Thermal widerstand gehäuse zu wärmeableiter |
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0.005 |
K m |
Montagekraft |
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19 |
|
26 |
kN |
T vj |
Junction-Temperatur |
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-40 |
|
125 |
℃ |
T stg |
Lagertemperatur |
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-40 |
|
140 |
℃ |
W t |
Gewicht |
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440 |
|
g |
Gliederung |
KT50cT |